Hard x-ray photoelectron spectroscopy study of the buried Si/ZnO thin-film solar cell interface: Direct evidence for the formation of Si–O at the expense of Zn-O bonds

M. Wimmer(Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie), B. Rech(Fraunhofer Center for Silicon Photovoltaics), Florian Ruske(Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie), G. Gavrila(Chemnitz University of Technology), Simone Scherf(Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie), K. Lips(Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie), W. Eberhardt(Goethe University Frankfurt), Mihaela Gorgoi(Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie), C. Lupulescu(Technische Universität Berlin), Marcus Bär, Regan G. Wilks(Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie), Roberto Félix(Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie), J. Hüpkes(Forschungszentrum Jülich), D Gerlach(University of Groningen)
Applied Physics Letters
October 10, 2011
Cited by 31


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