Profiling the Interface Electron Gas of<mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"><mml:msub><mml:mi>LaAlO</mml:mi><mml:mn>3</mml:mn></mml:msub><mml:mo>/</mml:mo><mml:msub><mml:mi>SrTiO</mml:mi><mml:mn>3</mml:mn></mml:msub></mml:math>Heterostructures with Hard X-Ray Photoelectron Spectroscopy

M. Sing(University of Würzburg), R. Claessen(University of Würzburg), C. Schneider(Université Paris-Sud), G. Berner(University of Würzburg), S. A. Pauli(Paul Scherrer Institute), Achim Müller(Osnabrück University), Mihaela Gorgoi(Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie), A. Wetscherek(University of Würzburg), Stefan Thiel(Université Paris-Sud), Karin Goß(University of Würzburg), P. R. Willmott(Paul Scherrer Institute), A W Ruff(University of Würzburg), F. Schäfers, J. Mannhart(Max Planck Institute for Solid State Research)
Physical Review Letters
April 30, 2009
Cited by 288


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