Evidence for a Peierls Distortion or a Kohn Anomaly in One-Dimensional Conductors of the Type<mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"><mml:mrow><mml:msub><mml:mrow><mml:mi mathvariant="normal">K</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mn>2</mml:mn></mml:mrow></mml:msub></mml:mrow><mml:mi mathvariant="normal">Pt</mml:mi><mml:mrow><mml:msub><mml:mrow><mml:mo>(</mml:mo><mml:mi mathvariant="normal">CN</mml:mi><mml:mo>)</mml:mo></mml:mrow><mml:mrow><mml:mn>4</mml:mn></mml:mrow></mml:msub></mml:mrow><mml:mrow><mml:msub><mml:mrow><mml:mi mathvariant="normal">Br</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mn>0.30</mml:mn></mml:mrow></mml:msub></mml:mrow><mml:mi>·</mml:mi><mml:mi>x</mml:mi><mml:mrow><mml:msub><mml:mrow><mml:mi mathvariant="normal">H</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mn>2</mml:mn></mml:mrow></mml:msub></mml:mrow><mml:mi mathvariant="normal">O</mml:mi></mml:math>
R. Comès(Université Paris-Sud), H. R. Zeller(Université Paris-Sud), Marc Lambert(Université Paris-Sud), H. Launois(Centre National de la Recherche Scientifique)
Cited by 262
Related Papers
Electron beam lithography: resolution limits and applications
|Applied Surface Science|2000|1.1k
Planar Patterned Magnetic Media Obtained by Ion Irradiation
|Science|1998|786
Comment on "V<mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"><mml:mrow><mml:msub><mml:mrow><mml:mi mathvariant="normal">O</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mn>2</mml:mn></mml:mrow></mml:msub></mml:mrow></mml:math>: Peierls or Mott-Hubbard? A View from Band Theory"
|Physical Review Letters|1994|346
Design and fabrication of blazed binary diffractive elements with sampling periods smaller than the structural cutoff
|Journal of the Optical Society of America A|1999|319