Quantitative analysis of Si mass transport during formation of<mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"><mml:mrow><mml:mi mathvariant="normal">Cu</mml:mi><mml:mo>∕</mml:mo><mml:mi mathvariant="normal">Si</mml:mi><mml:mrow><mml:mo>(</mml:mo><mml:mn>111</mml:mn><mml:mo>)</mml:mo></mml:mrow><mml:mtext>−</mml:mtext><mml:mrow><mml:mo>(</mml:mo><mml:mn>5</mml:mn><mml:mo>×</mml:mo><mml:mn>5</mml:mn><mml:mo>)</mml:mo></mml:mrow></mml:mrow></mml:math>from scanning tunneling microscopy

Y. P. Zhang, Andrew T. S. Wee, H. S. O. Chan et al.|Physical Review B|2007

Cited by 7