Techniques de mesure de grandeurs électriques adaptées aux nano-circuitsBrice Gautier, François Piquemal, Pascal Chrétien et al.|Cairn.info|2016Cited by 0
Etude de l'influence de la pointe sur les mesures KFM sur échantillon d'AlGaAs/GaAsSylvain Pouch, Łukasz Borowik, Thierry Mélin et al.|HAL (Le Centre pour la Communication Scientifique Directe)|2014Cited by 0