Thin Film Materials Characterization Using TE Modes Cavity

Jean-Michel Le Floch(Centre National de la Recherche Scientifique), Wei Peng(Shenzhen University), Valérie Madrangeas(Centre National de la Recherche Scientifique), D. Cros(Centre National de la Recherche Scientifique), Maryline Guilloux‐Viry(Centre National de la Recherche Scientifique), F. Houndonougbo(Centre National de la Recherche Scientifique)
Journal of Electromagnetic Waves and Applications
January 1, 2009
Cited by 20


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