Properties of Y-Ba-Cu-O thin films with ordered defect structure:<mml:math xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"><mml:mrow><mml:msub><mml:mrow><mml:mi mathvariant="normal">Y</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mn>2</mml:mn></mml:mrow></mml:msub></mml:mrow><mml:mrow><mml:msub><mml:mrow><mml:mi mathvariant="normal">Ba</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mn>4</mml:mn></mml:mrow></mml:msub></mml:mrow><mml:mrow><mml:msub><mml:mrow><mml:mi mathvariant="normal">Cu</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mn>8</mml:mn></mml:mrow></mml:msub></mml:mrow><mml:mrow><mml:msub><mml:mrow><mml:mi mathvariant="normal">O</mml:mi></mml:mrow><mml:mrow><mml:mn>2</mml:mn><mml:mn>0</mml:mn><mml:mo>−</mml:mo><mml:mi>x</mml:mi></mml:mrow></mml:msub></mml:mrow></mml:math>

K. Char(University of Geneva), S. S. Laderman(Hewlett-Packard (United States)), T. H. Geballe(Stanford University), I. Božović(Stanford University), Mark Lee(GlobalFoundries (Singapore)), M. R. Beasley(University of Twente), R. H. Hammond(University of Geneva), A. Kapitulnik(SLAC National Accelerator Laboratory), A. F. Marshall(Stanford University), R. Barton(Stanford University)
Physical review. B, Condensed matter
July 1, 1988
Cited by 150


Related Papers