Defect Detection in Random Colour Textures Using the MIA T2 Defect Maps

Fernando López‐García(Universitat Politècnica de València), José Miguel Valiente(Universitat Politècnica de València), Alberto Ferrer(Universitat Politècnica de València), J.M. Prats-Montalbán(Universitat Politècnica de València)
Lecture notes in computer science
January 1, 2006
Cited by 10


Related Papers